Universität Leipzig

Mathematik und Informatik

Grundlagen der Informatik

Fehlersuche auf Integrierten Schaltkreisen

31.03.10, 17:43 Uhr

wieder was Tolles aus den 80ern ;-)

Inhaltsverzeichnis
1. Allgemeines 1
2. Testen analoger Schaltkreise 2
2.1 Informationsgehalt von Datenblättern 2
2.2 Allgemeine Messungen 3
2.2.1 Ein- und Ausgangswiderstandsmessungen 4
2.2.2 Messung von komplexen Ein- und Ausgangswiderständen
4
2.2.3 Messung von kleinen Strömen 6
2.2.4 Messung von kleinen Spannungsdifferenzen 7
2.3 Prüfstrategien und Prüfmittel 8
3. Testen digitaler IC's 10
3.1 Fehlerursachen und Fehlermodelle 10
3.1.1 Physikalische Fehlermöglichkeiten 11
3.1.2 Strukturorientierte Fehlermodelle 12
3.1.3 Funktionsorientierte Fehlermodelle 16
3.2 Testmustererzeugung 17
3.2.1 Testmuster für kombinatorische Schaltungen 17
3.2.2 Testmuster für sequentielle Schaltungen 20
3.3 Testen digitaler Speicher 22
3.3.1 Speichertestmuster 23
Anhang Literaturverzeichnis 26

551.pdf

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